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其产生噪声的大小与温度、频带宽度△f成正比。高频热噪声高频热噪声是由于导电体内部电子的无规则运动产生的。温度越高，电子运动就越激烈。导体内部电子的无规则运动会在其内部形成很多微小的电流波动，因其是无序运动，故它的平均总电流为零，但当它作为一个元件(或作为电路的一部分)被接入放大电路后，其内部的电流就会被放大成为噪声源，特别是对工作在高频频段内的电路高频热噪声影响尤甚。通常在工频内，电路的热噪声与通频带成正比，通频带越宽，电路热噪声的影响就越大。
探头端接测试点长时间监测异常ZDS4的时序分析软件具备长时间统计功能，下班后设置好示波器，对数据采集仪的SPI总线时序连续监测一个晚上，第二天上班的时候，导出监测分析结果，如所示，一个晚上总共进行了72185次测量，其中有1347次是测量失败的，导致异常的原因是SPI的数据建立时间不满足后级芯片的时序要求。示波器自动保存了这1347份失败的测试报告，打第1345份测试报告，如所示，显示了当前建立时间为3.75ns（包含时序违规处截图），不满足后级芯片4ns建立时间的要求，而且历史出现 差的时序是3.5ns，时序是8.5ns，问题得以。
依据此数据库，可自动生成各种统计报表，包括X-BARR及X_BARS图表、频率直方图、运行图、目标图等。美国公司的Cameleon测量系统所配支持软件可包括齿轮、板材、凸轮及凸轮轴共计50多个测量模块。日本Mistutor公司研制发了一种图形显示及绘图程序，用于辅助操作者进行实际值与要求测量值之间的比较，具有多种输出方式。STRATA-UX系统简图非接触测量基于三角测量原理的非接触激光光学探头应用于CMM上代替接触式探头。
在过去25年里，微控制器的内部外设发生了巨大的变化。 初许多微控制器只包含RAM、ROM，也许还有基本的定时器。随着微控制器的发展，更多的外设被基础到这种单价不超过一美元的器件中。定时器/计数器、PWM和包括UART、SPI和I2C在内的标准串行接口常用于这些廉价的微控制器。另一个重大变化是32位CPU正在取代同一价格范围的8位器件。但是即便有如此丰富的特性，对于廉价微控制器而言，随时都存在微控制器厂商不能迅速支持的项目 硬件接口或新的第三方接口。
借助现场总线通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus)，这些装置能被测仪器的quot;健康状态quot;信息，这种状态信息可由资产监测器加以利用。这些资产监测器(如ABB的80OXA扩展自动化系统)可探测到有关仪器性能的下降，通知相应的人员展进一步 ，并在适当的情况下补救措施。无论作为简单的显示或报信息执行，或是作为完整控制系统的一部分，这些功能都可让客户主动对资产使用情况进行优化，而非被动对 出反应。
可以看出实时频谱分析模式下的数字荧光频谱图能够更加具体的显示出信号的变化趋势和信号动态变化过程。扫频模式下的信号测试图实时频谱分析模式下的信号测试图2演示信号随时间的变化过程通过数字荧光频谱图和无缝瀑布图的联合分析可以展示频谱的动态变化过程。展示了使用实时频谱分析模式对跳频信号进行测试的示意界面，无缝瀑布图中可以看到频率跳变的整个过程，而数字荧光图可以验证跳频信号质量，同时通过打频率vs时间图，可以观察到时域中的频率跳变过程，配合标记等可以简单测量出跳频速率和跳频带宽等参数。
测量仪器的使用看零件图纸时，必须首先了解测量要求和方法，规划检测方案或调出设计好的检测程序。工件吊装前，要将探针退回坐标原点，为吊装位置预留较大的空间；工件吊装要平稳，不可撞击三坐标测量机的任何构件。正确零件，前确保符合零件与测量机的等温要求，恒温条件下，提前四个小时以上放入被测工件。建立正确的坐标系，保证所建立的坐标系符合图纸的要求，才能确保所测数据准确。当编好程序自动运行时，要防止探针与工件的互相干涉，故需注意要增加拐点。
